探針臺(tái)主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)、光電行業(yè)、集成電路以及封裝的測試。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。

磁場探針臺(tái)就是在普通探針臺(tái)的基礎(chǔ)上，增加了磁性測量環(huán)境，包括一維、二維、三維磁場，還有水平或者豎直磁場等；既包括電磁鐵，也包括亥姆霍茲線圈等。增加了磁場環(huán)境之后，結(jié)合探針臺(tái)的優(yōu)勢，對(duì)于一些自旋電子學(xué)器件或者磁性傳感器等的研究就會(huì)十分地方便。

磁場探針臺(tái)主要包括磁場部分、探針臺(tái)臺(tái)面部分、探針座探針部分、顯微鏡部分、光學(xué)平臺(tái)部分、位移臺(tái)部分、測試線部分以及外接的測試儀表等，以上部分可以根據(jù)實(shí)際需求增加或者減少，磁場部分以及其它所需部分也可以根據(jù)需求進(jìn)行特殊定制。